基于电子散斑干涉技术的压力容器无损检测

• 作者: 李思忠 符春渝 莫军 黄鹏
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 无损检测 压力容器 电子散斑干涉技术 缺陷 应变场 应力场
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 2-5
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2829字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2005.01.001

摘要

针对含有内部狭长形缺陷的球形薄壁压力容器,采用电子散斑干涉技术测试了容器表面的位移场,分析了其应变和应力场.测试结果表明,内压0.65MPa时离面位移等值线呈"花生"状,缺陷对应表面处变形产生局部凹陷,第一主应变和主应力场有明显的狭长形低值带,该低值带能反映内部缺陷的位置和形状.给出了基于板壳理论的力学分析模型,分析表明,缺陷处壳体厚度改变产生的弯矩是导致应力和应变量在缺陷处迅速降低的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄鹏		16	95	7.0	9.0
2	莫军		30	148	8.0	11.0
3	李思忠		25	217	7.0	14.0
4	符春渝		10	38	4.0	5.0