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摘要:
通过改进碲溶剂长晶炉的径向炉温分布,改善了晶体生长的液-固界面,用碲溶剂长晶方法生长出了高均匀性碲镉汞体晶材料,用英国爱丁堡Mullard公司的碲镉汞晶片评价装置在光斑为1 mm2的测试条件下测出晶片材料组分均匀性(x为±0.003 mol.CdTe,达到了制作红外焦平面探测器列阵对材料的要求.
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文献信息
篇名 碲溶剂法生长高均匀性Hg1-xCdxTe体晶材料的工艺研究
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 碲镉汞 红外材料 组分均匀性
年,卷(期) 2005,(5) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 384-387
页数 4页 分类号 TN213
字数 1442字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.05.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李玉德 3 1 1.0 1.0
2 刘新进 2 1 1.0 1.0
3 李富培 1 1 1.0 1.0
4 郭云成 1 1 1.0 1.0
5 庄维莎 1 1 1.0 1.0
传播情况
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1979(1)
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2008(1)
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节点文献
碲镉汞
红外材料
组分均匀性
研究起点
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研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
3361
总下载数(次)
13
总被引数(次)
30858
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