碳素材料内部缺陷检测方法的探讨

• 作者: 刘义伦 周贤 赵先琼 龚海飞
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 碳素材料 超声波检测 X射线检测 声发射检测
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 132-134
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2484字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2005.03.006

摘要

讨论了产生碳素制品不均质结构和决定材料性能的影响因素,以及由此而产生的结构缺陷对材料内部质量检测的影响.论述了超声波、X射线及声发射三种无损检测方法在碳素材料内部质量检测中的应用状况.在此基础上,通过大量实验,分析对比了三种检测方法在碳素材料内部质量检测中不同的检测效果.提出了超声波脉冲回波法不适合检测碳素制品的内部缺陷,超声波波速分析法适合检测碳素制品均质结构.X射线法是适合定量评价碳素制品内部缺陷的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘义伦	中南大学机电工程学院	177	1461	19.0	28.0
2	赵先琼	中南大学机电工程学院	71	465	12.0	18.0
3	周贤	中南大学机电工程学院	26	273	10.0	16.0
4	龚海飞	中南大学机电工程学院	5	18	3.0	4.0