S-粗集与它的分解-还原

• 作者: 史开泉 崔玉泉
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 数学
• 关键词: S-粗集 分解类 还原类 分解定理 还原定理 属性安全性原理
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 系统工程
• 页码范围: 644-651
• 页数: 8页
• 分类号: O159
• 字数: 8933字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2005.04.019

摘要

利用S-粗集(singular rough set)和它的两类形式:单向S-粗集(one-direction singular roughsets)和双向S-粗集(two-direction singular rough set),给出等价类的分解类、还原类、分解基、还原基的概念,提出S-粗集的分解定理、还原定理、分解-还原关系定理、最大属性集原理、最小属性集原理和属性安全性原理.S-粗集的分解、还原是粗系统中粗推理研究的理论基础.S-粗集是粗集理论,粗系统的理论研究与应用研究的一个新的研究方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史开泉	山东大学数学与系统科学学院	193	3344	30.0	52.0
2	崔玉泉	山东大学数学与系统科学学院	36	889	12.0	29.0