SOC测试矢量压缩技术

• 作者: 方向忠 邓宁 郭凯
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试矢量 嵌入式微处理器
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 39-40
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 1682字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2005.04.022

摘要

为了减少SOC芯片的测试容量和缩短测试时间,可以在下载前压缩测试数据.文中利用SOC测试矢量间的相关性,提出基于矢量间编码的压缩算法,在有很好的压缩效率的同时,它的解压缩算法能够很简单地在嵌入式微处理器上用软件实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方向忠		91	515	10.0	18.0
2	郭凯		7	28	2.0	5.0
3	邓宁		2	22	1.0	2.0