基于APTIX设备实现对数字系统的硬件加速验证

• 作者: 许晏 谭安菊
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路设计 数字系统 硬件加速验证 模板验证平台(MVP) 现场可编程电路板(FPCB) 现场可编程互连元件(FPIC)
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2234字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2005.01.011

摘要

随着硬件描述语言(HDL)的发展,数字系统日趋复杂,对其进行验证需要很长时间,根据近年来的统计,对数字系统设计进行测试验证所花的时间占整个设计过程的60%以上.但是现在许多可编程逻辑器件(PLD)厂家都能够提供相关电子设计自动化(EDA)软件来完成对数字系统的快速验证,其中APTIX公司的设备是价格低、验证速度快、基于层次化和模块化的验证平台.文中以APTIX设备为开发环境,应用硬件加速验证的方法来实现对数字系统的快速验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭安菊	中国工程物理研究院电子工程研究所	4	107	2.0	4.0
2	许晏	中国工程物理研究院电子工程研究所	8	38	3.0	5.0