两种二氧化硅吸附性能比较

• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 二氧化硅 比表面积 孔径分布
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 测试方法应用
• 页码范围: 208-210
• 页数: 3页
• 分类号: O64
• 语种: 中文

摘要

对国内外两种柱层层析硅胶进行了吸附-脱附等温线测试,结果表明这两种硅胶的性能差异明显.SiO2-In(中国产)样品比表面积小,其孔径分布宽,最可几孔径为9.0nm,孔容为0.9mL/g;而SiO2-Out(美国产)的比表面积大,孔径分布窄,最可几孔径为2.5nm,孔容为0.4mL/g.