基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱在糖类化合物研究中的应用

• 作者: 陈海霞 高文远
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 化学
• 关键词: 基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱 基质 糖类化合物
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 108-114
• 页数: 7页
• 分类号: O657.63|O629.1
• 字数: 5387字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2997.2005.02.012

摘要

综述了基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)的发展、在糖类化合物结构研究时常选用的基质,以及在不同类型糖化合物分析中的应用.MALDI-TOF-MS在糖类分析中通常采用的是N2激光源,基质多为有机小分子如2,5-二羟基苯甲酸、2,4,5-三羟基苯乙酮、1-羟基异喹啉或2-羟基-5-甲氧基苯甲酸、α-氰基-4-羟基-苯丙烯酸等,基质类型的选择则要取决于糖类的存在形式.糖类化合物如中性糖、酸性糖、硫酸化糖、糖蛋白、蛋白聚糖及糖脂等均可利用适合的基质而进行MALDI-TOF-MS分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高文远	天津大学药物科学与技术学院	294	5715	36.0	63.0
2	陈海霞	天津大学药物科学与技术学院	38	727	16.0	26.0