微构件材料力学性能测试方法

• 来源期刊: 实验力学
• 学科: 工学
• 关键词: 微构件 力学性能测试 MEMS 片上测试 片外测试
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 441-447
• 页数: 7页
• 分类号: TB302.3
• 字数: 2873字
• 语种: 中文

摘要

随着MEMS的商业化进程,微构件材料力学性能的研究成为越来越重要的一个课题.微小试件的制备、安装、夹持、微驱动、高分辨率的载荷和位移测量等技术问题都是对微构件材料力学性能测试的很大挑战,很多传统的测试方法和装置已经不再适用了.近十几年,国内外学者发展了一些微构件材料力学性能的研究方法,来测量微构件的弹性模量、屈服强度、断裂强度、残余应力和疲劳强度等.本文从实验系统的集成度出发,将这些测试方法大致分为片外测试和片上测试两类.本文对单轴拉伸法、纳米压痕法、鼓膜法、微梁弯曲法和衬底曲率法等典型的片外测试方法和一些典型的片上测试方法进行了介绍,并比较了各自的优缺点.