范德堡和条状结构埋层电阻的测试及研究

• 作者: 彭力 赵文彬
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 基区变窄效应 埋层电阻 电阻调整 范德堡 条状电阻
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 测试与可靠性
• 页码范围: 20-22,19
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2071字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2005.04.006

摘要

薄层电阻经常被用于PCM以及SPICE模同时我们可以看到,随偏压的变化,JFET器件中的埋层电阻也发生相应的变化.本文研究了条形电阻和范德堡两种标准结构的电阻,同时利用2D、3D器件模拟,给出了优化电阻测试的路径和方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵文彬		9	10	2.0	2.0
2	彭力		6	14	2.0	3.0