消光法粒度测量中折射率反演问题研究

• 作者: 任宽芳 徐峰 苏明旭 蔡小舒
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 颗粒测量 Mie散射 折射率 反演
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 颗粒测试与表征
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: TH744
• 字数: 2346字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2005.03.001

摘要

利用多波长消光法,在已知粒度分布前提下,采用遗传算法对折射率进行了反演.相比于传统的优化方法通常获得的局部最优解,该算法获得的折射率结果逼近全局最优解.反演采用的波长数目和颗粒单分散性的优劣影响解的可靠性.尽量多地获得透射谱信息以及增大颗粒系的分散性可以是测量结果更准确.由于亚微米和纳米级颗粒的消光系数-折射率曲线的单值性关系比微米级颗粒更为明显,导致其目标函数的多峰分布程度得以降低,使反演的抗噪能力增强,折射率更易于获得.