用红外透射法确定任意厚度下碲镉汞晶体的组分

• 作者: 刘新进 杨彦
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 碲镉汞 组分 红外透射法
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 39-41
• 页数: 3页
• 分类号: TN213
• 字数: 2180字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.01.009

摘要

选用组分均匀的碲镉汞Hg1-xCdxTe晶片(x＝0.170-0.300 mole CdTe),在室温下用红外光谱仪测量晶片在不同厚度的透射光谱,取透射比为5%对应的波数值,对实验数据进行拟合,得到了碲镉汞晶体组分与透射比为5%对应的波数值和晶片厚度之间的经验关系式(简称经验式).结果表明:用本文的经验式得到的组分值不受晶片厚度的影响,准确而可靠.本文拟合的经验式适用于红外透射法测量任意厚度碲镉汞材料的组分计算,同时还可用它研究Hg1-xCdxTe晶片组分的均匀性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨彦		4	4	1.0	2.0
2	刘新进		2	1	1.0	1.0