X射线荧光光谱法测定多种铁矿和硅酸盐中主次量组分

• 作者: 欧阳伦熬
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 铁矿 硅酸盐 X射线荧光光谱 基体效应校正
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 实验技术与实验装置
• 页码范围: 303-306
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2044字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2005.04.015

摘要

采用熔融玻璃法,用Axios型 X射线荧光光谱仪测定铁矿和硅酸盐中Fe2O3、SiO2、Al2O3、TiO2、CaO、MgO、SO3、MnO、V2O5、K2O、P2O5、Na2O、Co和Ni等组分含量.使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标准值基本吻合.用钒钛磁铁矿GBW 07225国家一级标准物质进行精密度试验,统计结果除K2O、P2O5、Ni的RSD<15%,其余大多数组分的RSD<4.0%(n＝12).