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高速电路中电容的分析及其EMC设计
高速电路中电容的分析及其EMC设计
作者:
丁高
吴超
阚德鹏
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
去耦电容
谐振
史密斯圆图
摘要:
在高速数字电路设计中,电容的正确选用及配置对系统的正常工作及其电磁兼容性起着至关重要的作用.本文对电容在电路系统中的高频特性进行了详细的分析,进而对电容的选择、放置及容值的计算进行了研究,提出了具有一定工程意义的去耦电容的选取方案.
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文献信息
篇名
高速电路中电容的分析及其EMC设计
来源期刊
电子质量
学科
工学
关键词
去耦电容
谐振
史密斯圆图
年,卷(期)
2005,(3)
所属期刊栏目
EMC
研究方向
页码范围
74-75,62
页数
3页
分类号
TM53
字数
2167字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2005.03.035
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
吴超
西安电子科技大学机电工程学院
12
56
5.0
7.0
2
丁高
西安电子科技大学机电工程学院
11
91
5.0
9.0
3
阚德鹏
西安电子科技大学机电工程学院
7
30
4.0
5.0
传播情况
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2005(3)
参考文献(0)
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2005(3)
引证文献(2)
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引证文献(1)
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引证文献(0)
二级引证文献(1)
2020(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
去耦电容
谐振
史密斯圆图
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号:
46-39
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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