SDH设备交叉模块的测试技术

• 作者: 何建明 刘小红
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 高阶 低阶 交叉连接 指针调整
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 18-19,39
• 页数: 3页
• 分类号: TN915
• 字数: 1545字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-8788.2005.01.007

摘要

文章介绍了同步数字体系(SDH)设备交叉模块的测试技术.它可以对交叉模块进行快速的全面测试,也可在交叉模块不正常时进行准确的定位,同时持续送出测试信号便于检修.文章首先介绍了研究课题的背景及意义,然后简要介绍了交叉模块的工作原理,最后详细介绍了高、低阶交叉模块的测试方案.经过实际运行和测试,证明了系统设计的可行性和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何建明		9	40	4.0	6.0
2	刘小红		23	150	6.0	11.0