烧结载量对Zn-Bi片式压敏电阻器电性能的影响

• 作者: 唐斌 祝忠勇 赖杨
• 来源期刊: 现代技术陶瓷
• 学科: 工学
• 关键词: 烧结装载量 Zn-Bi系片式压敏电阻器 电性能
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 科研与探讨
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 分类号: TQ174
• 字数: 1717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-1198.2005.01.002

摘要

通过烧结工序中0402型低压产品装载量不同的试验,研究了它们对Zn-Bi系片式ZnO压敏电阻器电性能的影响.结果表明:当配方体系中Bi2O3摩尔分数为0.6%,装载量为10g时,产品的电性能最好,非线性系数大于30,漏电流小于5μA.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐斌		8	11	2.0	2.0
2	祝忠勇		14	49	4.0	6.0
3	赖杨		2	5	1.0	2.0