不同 Sr/Ba比对SBT薄膜结构与性能影响的研究

• 作者: 丁碧妍 付兴华 侯文萍 傅正义 单连伟 韦其红
• 来源期刊: 陶瓷学报
• 学科: 工学
• 关键词: Sr/Ba比 SBT薄膜 介电性能 结构特征 最大εr温度点
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 17-23
• 页数: 7页
• 分类号: TQ174.75+8
• 字数: 3348字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-2278.2005.01.004

摘要

本文采用HPAgilent4294A阻抗分析仪、SEM、XRD、TEM等测试方法研究了不同Sr/Ba比对Sr1-xBaxTiO3(SBT)薄膜结构与性能的影响.在同一测试频率下,当Sr/Ba比为0.5时,薄膜的相对介电常数εr最大,介质损耗tan δ相对较小,最大εr温度点Tm为305K;在所测试的频率范围内,εr随频率的升高而降低,tan δ则相反,表现出较好的频散特性.薄膜的矿物相为四方钙钛矿结构.Sr/Ba比为0.5时,薄膜表面无裂纹,孔洞少,颗粒集聚较少,其平均粒径均为80nm,分布均匀;晶格条纹间距约为2.96A,晶界两侧的晶粒取向是随机的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯文萍	济南大学材料学院	21	168	7.0	12.0
2	付兴华	武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室	56	382	10.0	17.0
4	傅正义	武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室	144	1583	22.0	32.0
5	单连伟	济南大学材料学院	6	35	3.0	5.0
6	丁碧妍	济南大学材料学院	5	27	2.0	5.0
9	韦其红	济南大学材料学院	7	27	3.0	4.0