纳米颗粒的测量与表征

• 作者: 王书运
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米颗粒度 检测方法 表征
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 显微、测量、微细加工技术与设备
• 页码范围: 37-41
• 页数: 5页
• 分类号: TN16|TN405|TB383
• 字数: 5917字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2005.01.009

摘要

介绍了用于纳米颗粒测量的电镜观察法、X射线衍射线宽法、激光粒度分析法、比表面积法、颗粒沉降法、扫描探针显微术以及小角X射线散射等,并对其测量原理、测量过程、适用范围及测量方法的优缺点进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王书运	山东师范大学物理与电子科学学院	57	450	11.0	19.0