荧光级高纯氧化钇材料中二氧化硅杂质的测定

• 作者: 汪元香
• 来源期刊: 资源环境与工程
• 学科: 化学
• 关键词: 高纯氧化钇 分光光度法 二氧化硅 测定
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 技术与方法
• 页码范围: 223-224,241
• 页数: 3页
• 分类号: O612.3|O657.3
• 字数: 1874字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1211.2005.03.016

摘要

提出了在0.1～0.2 mol/L盐酸介质中,硅与钼酸铵生成黄色的硅钼杂多酸,以抗坏血酸还原硅钼杂多酸为硅钼兰,分光光度法测定荧光级高纯氧化钇中二氧化硅的含量.方法灵敏度高,二氧化硅的检出限为4 μg/g.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪元香		3	3	1.0	1.0