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摘要:
根据红外辐射理论和薄膜光学原理计算了高品质ITO(indium tin oxide)导电膜的红外发射率,其理论曲线与实测曲线基本符合. 并得出方块电阻小于30Ω时,ITO膜在红外波段8-14μm的平均红外发射率理论值小于0.1.实际制备方块电阻小于10Ω的ITO膜具有优良的红外隐身性能. 讨论了高品质ITO膜具有低红外发射率的物理机理,并提出了低红外发射率临界方块电阻值,这有利於理论研究和工艺制备红外隐身ITO膜.
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文献信息
篇名 ITO导电膜红外发射率理论研究
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 红外发射率 ITO薄膜 理论计算 方块电阻
年,卷(期) 2005,(9) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 4439-4444
页数 6页 分类号 O4
字数 3643字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.09.087
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王天民 北京航空航天大学理学院 140 1545 22.0 32.0
2 崔敏 北京航空航天大学理学院 10 72 4.0 8.0
3 张维佳 北京航空航天大学理学院 18 162 8.0 12.0
4 吴小文 北京航空航天大学理学院 7 60 4.0 7.0
5 钟立志 北京航空航天大学理学院 6 57 4.0 6.0
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