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摘要:
传统的相位差测量仪需要采用多片中小规模集成电路,不仅电路复杂,测量相位差的精度不高,而且适用的频率范围窄,因此在实际应用中存在着不足之处.本文介绍了用于RF/IF幅度和相位测量的芯片AD8302、一种高速异步FIFO芯片SN74ACT7808和高速A/D芯片TLC5540的性能特性,并利用MCU及上述芯片设计了一种新型的相位差测量系统,给出了该测量系统的接口电路,并阐述了它的实现原理.
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一种工频相位差测量仪的设计
相位差
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设计
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 AD8302型相位差测量系统的设计
来源期刊 电子科技 学科 工学
关键词 相位差 AD8302 SN74ACT7808 TLC5540
年,卷(期) 2005,(11) 所属期刊栏目 技术论文
研究方向 页码范围 48-52
页数 5页 分类号 TN43
字数 3320字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-7820.2005.11.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周渭 西安电子科技大学信息处理研究所 98 1289 21.0 31.0
2 王海 西安电子科技大学信息处理研究所 34 423 11.0 20.0
3 郑珍 西安电子科技大学信息处理研究所 4 126 3.0 4.0
4 张云华 西安电子科技大学信息处理研究所 3 43 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
相位差
AD8302
SN74ACT7808
TLC5540
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技
月刊
1007-7820
61-1291/TN
大16开
西安电子科技大学
1987
chi
出版文献量(篇)
9344
总下载数(次)
32
总被引数(次)
31437
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