晶界对工业单晶铜线材传输性能影响的微观机制

• 作者: CHEN Jian 严文 李红英 王雪艳 范新会 陈建
• 来源期刊: 铸造技术
• 学科: 工学
• 关键词: 工业铜单晶 线材 晶界 传输性能
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 1096-1099
• 页数: 4页
• 分类号: TG146.1+1
• 字数: 3568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8365.2005.12.002

摘要

通过分析晶界对铜线材电阻率、电容值以及信号失真度的影响规律,研究晶界对线材传输信号影响的机制.结果表明,随晶界数的增加,线材的电阻率呈非线性增加,线材的电容值呈线性减少.晶界的电阻率大于晶界两侧晶粒的电阻率是晶界影响线材传输性能的本质,晶界的电阻、电容以及电感特性是晶界对线材传输性能影响的具体表现形式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严文	西安工业学院材料与化工学院	129	1083	17.0	23.0
2	陈建	西安工业学院材料与化工学院	70	347	11.0	14.0
6	王雪艳	西安工业学院材料与化工学院	10	87	6.0	9.0
7	CHEN Jian	西安工业学院材料与化工学院	1	11	1.0	1.0
11	李红英	西安工业学院材料与化工学院	3	39	3.0	3.0