熔锥型宽带耦合器偏振相关损耗研究

• 作者: 周卫华 王涛 苏善行
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 熔锥型宽带耦合器 偏振相关损耗 预拉
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 64-67
• 页数: 4页
• 分类号: TN2
• 字数: 2925字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-8788.2005.01.021

摘要

研究了熔锥型宽带耦合器的偏振相关损耗(PDL),发现构成宽带耦合器的两熔融光纤结构上的不对称是导致其PDL不能为0的根本原因.通过对宽带耦合器结构的优化设计,报道了目前PDL最低的宽带耦合器:1 310 nm窗口PDL≤0.05dB;1 550nm窗口PDL≤0.07dB.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王涛	华中科技大学光电子工程系	242	1347	16.0	25.0
2	苏善行	华中科技大学光电子工程系	1	4	1.0	1.0
6	周卫华		1	4	1.0	1.0