薄层色谱法测定药物中的妥布霉素

• 作者: 张辉 林莉 陶凯
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 卡波姆 硅胶H 妥布霉素 薄层色谱法 比移值
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 551-552
• 页数: 2页
• 分类号: O657.7
• 字数: 1034字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2005.03.028

摘要

卡波姆、NaOH和硅胶H铺制薄层硅胶板,薄层色谱法测定药品中妥布霉素的纯度,达到美国药典24版质量标准要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林莉	沈阳医学院基础部化学教研室	17	40	3.0	5.0
2	张辉	沈阳医学院基础部化学教研室	50	168	8.0	10.0
3	陶凯		14	61	5.0	7.0