Y2SiO5:Eu3+纳米荧光粉的光谱特性研究

• 作者: 付晏彬 俞仙妙 施申蕾 朱京平 黄莉蕾
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Y2SiO5:Eu3+纳米荧光粉 X1、X2型物相 光谱蓝移 荧光强度
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 317-321
• 页数: 5页
• 分类号: O482.31
• 字数: 3413字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2005.04.015

摘要

用凝胶燃烧法制备Y2SiO5:Eu3+纳米荧光粉.X射线衍射实验发现,在1 100 ℃以下烧结得到X1型物相,属单斜晶系,空间群为P21/c;在1 300 ℃以上烧结得到X2型物相,属单斜晶系,空间群为C2/c.研究了各样品的红外光谱,发现同物相的校正面积和校正高度随颗粒增大而增大,在物相转型时发生突变,X2型吸收峰位发生蓝移;研究了室温下样品在395 nm紫外光激发下得到的发射光谱,发现纳米荧光粉的5D0→7F0峰相比体材料发生蓝移,5D0→7F2峰相比于体材料中心位置变化不大,而谱带明显加宽.随着烧结温度降低,荧光粉颗粒减小,5D0→7F2的跃迁峰强度回落,但5D0→7F1与5D0→7F4的跃迁峰强度变化不大.Eu3+在Y2SiO5基质中占有两个不同的格位,不同的能级产生两套光谱致使峰数比退简并的峰数多.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱京平	浙江大学分析测试中心	11	125	8.0	11.0
2	黄莉蕾	中国计量学院光电子研究所	11	91	6.0	9.0
3	付晏彬	中国计量学院光电子研究所	9	147	7.0	9.0
4	施申蕾	中国计量学院光电子研究所	8	64	5.0	8.0
5	俞仙妙	中国计量学院光电子研究所	1	9	1.0	1.0