强度调制光纤位姿传感器的检测性能提高技术

• 作者: 李风 邝泳聪
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤位姿传感器 取样积分 SSPA
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 11-13
• 页数: 3页
• 分类号: TP212
• 字数: 3126字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2005.03.005

摘要

本文研究了强度调制光纤传感器的反射信号检测技术,提出基于自扫描光电二极管阵列(SSPA)取样积分的时域光强检测方法,它具有信号处理简单,有效抑制环境光和电路背景噪声影响的特点,该方法的实施有效地提高了强度调制传感器的测量精度和稳定性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李风	广东工业大学材料与能源学院	80	427	10.0	16.0
2	邝泳聪	华南理工大学机械工程学院	56	348	11.0	15.0