光无源器件偏振依赖损耗的测试方法

• 作者: 全治科 应承平 王恒飞
• 来源期刊: 光子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 偏振依赖损耗 测试方法 光器件
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 光电器件
• 页码范围: 140-144
• 页数: 5页
• 分类号: TN2
• 字数: 2970字
• 语种: 中文

摘要

介绍了光无源器件偏振依赖损耗的几种测试方法,并对它们的优缺点进行了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	全治科		7	13	2.0	3.0
2	王恒飞		17	35	3.0	5.0
3	应承平		10	19	3.0	4.0