1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析

• 作者: 丁锋 万卫星 刘立波 宁百齐 陈斌
• 来源期刊: 空间科学学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 耀斑 总电子含量(TEC) 全球定位系统(GPS)
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 6-16
• 页数: 11页
• 分类号: P182
• 字数: 7091字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-6124.2005.01.002

摘要

利用1996-2003年期间GOES卫星耀斑观测资料和国际GPS观测网的GPS-TEC资料分析X级大耀斑事件引起的电离层电子浓度总含量(TEC)的突然增强(SITEC)现象.对X射线耀斑等级、耀斑日面位置与SITEC的关系进行了分析.结果表明,两者都与SITEC现象的强弱有着一定的正相关性.在消除X射线耀斑等级、耀斑日面位置对电离层SITEC现象的影响后,进而分析了日地距离以及耀斑持续时间对电离层SITEC现象的影响.结果表明,日地距离和耀斑持续时间都是影响SITEC现象的重要参数,日地距离较近时发生的耀斑事件引起的SITEC现象较为强烈.另外,耀斑持续时间越长,SITEC现象越微弱,但是当耀斑持续时间继续延长时,SITEC现象的强弱逐渐趋于不再改变,最后在某值附近达到平衡.还对某些没有在电离层中引起明显SITEC现象的耀斑事件进行了讨论,发现了这类耀斑的一些特征.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈斌	中国科学院地质与地球物理研究所	105	1004	16.0	28.0
10	刘立波	中国科学院地质与地球物理研究所	43	563	13.0	22.0
11	万卫星	中国科学院地质与地球物理研究所	100	1153	19.0	28.0
12	宁百齐	中国科学院地质与地球物理研究所	61	731	16.0	25.0
13	丁锋	中国科学院地质与地球物理研究所	17	185	6.0	13.0