基于半导体制冷器的非均匀性校正

• 作者: 潘德彬 贾国伟
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体制冷器 非均匀性校正 响应率 Peltier 效应
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 图像与信号处理
• 页码范围: 9-11
• 页数: 3页
• 分类号: TP911
• 字数: 1845字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3392.2005.06.003

摘要

非均匀性是红外系统中影响图像质量的重要因素.为了更好地拟合探测器的响应曲线,充分发挥探测器的最佳性能,以获得良好的图像效果,在两点校正的理论基础上提出了一种更为实用的两点校正方法.通过单片机(MCU)控制半导体制冷器(TEC)以产生两个不同的校正温度点,系统分别读取在这两个温度点下所采集的两幅图像,利用两点校正算法计算探测器的响应率和暗电流.通过实验验证,这种校正算法实用,易于实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘德彬		6	23	3.0	4.0
2	贾国伟		1	2	1.0	1.0