基于偏振调制技术的晶体各向异性参数实时检测系统

• 作者: 孔春林 王克逸 王宗宝
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双折射 光学二向色性 数字信号处理器 电光调制 高压驱动
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TB9
• 字数: 2408字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2005.08.003

摘要

介绍了基于偏振光电光调制技术对人工晶体各向异性参数的检测,设计了半嵌入式的微机实时检测系统,可完成对晶体光学双折射与二向色性特征参数计算分析,并可检测晶体缺陷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王克逸	中国科学技术大学精密机械与精密仪器系	81	512	13.0	18.0
2	王宗宝	中国科学技术大学精密机械与精密仪器系	11	39	4.0	5.0