基于外存性能模型的多通道并行I／O

• 作者: 刘鹏 李三立
• 来源期刊: 通讯和计算机：中英文版
• 学科: 工学
• 关键词: I/O PCI 外存性能模型 多通道
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TP311.13

摘要

I／O部分一直是制约计算机系统整体性能提升的瓶颈。本文提出外存性能模型，用于定量分析外存的I／O性能并帮助克服I／O瓶颈，并在此基础上，提出用多通道I／O克服PCI总线瓶颈。采用多钱程控制和异步I／O技术，使所有通道的磁盘并行工作。对比实．验表明，最大顺序读性能提升了46％，顺序写提升48％，随机读提升4％，随机写提升57％。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘鹏	清华大学计算机科学与技术系	47	601	12.0	24.0
2	李三立	解放军理工大学军事网格研究中心	1	0	0.0	0.0