LabVIEW图形处理功能在断路器测量分析系统中的应用

• 作者: 刘丽 汤宁平
• 来源期刊: 电机电器技术
• 学科: 工学
• 关键词: LabVlEW 断路器 光标
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 电器技术
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: TM5
• 字数: 2171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6079.2005.05.019

摘要

本文简要介绍了利用LabVIEW处理断路器综合参数测量分析虚拟仪器系统测量数据的曲线图形时遇到的问题.包括光标的设置、两光标间的相对位置、光标的同步移动、多幅图形的同比例缩放及曲线颜色在线的修改.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤宁平	福州大学电气工程与自动化学院	56	488	11.0	21.0
2	刘丽	福州大学电气工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0