考虑测试覆盖率和故障排除效率的软件可靠性增长模型

• 作者: 刘宏伟 岳晓光 李春芝
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 软件可靠性增长模型 非齐次泊松过程 测试覆盖率 故障排除效率
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 分类号: TP311.5
• 字数: 2931字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.03.014

摘要

软件测试覆盖率直观地描述了软件测试的程度,现有的基于测试覆盖率的软件可靠性增长模型绝大多数都没有考虑故障的排除效率.论文把软件测试覆盖率和故障排除效率引入到软件可靠性评估过程中,建立了一个既考虑测试覆盖率,又考虑故障排除效率的非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型,在一组失效数据上的实验分析表明:对这组失效数据,论文提出的模型比其他一些非齐次泊松过程类模型的拟合效果更好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏伟	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	88	834	16.0	25.0
2	岳晓光	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	2	29	2.0	2.0