基于漏检概率的RAIM可用性分析方法

• 作者: 周建华 唐波 陈金平
• 来源期刊: 测绘学院学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 完好性 可用性 RAIM 多故障
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: P228
• 字数: 2558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6338.2005.01.003

摘要

描述了通常基于单故障假设相应的HPL或VPL的计算模型,针对WAAS用户在应用RAIM时需要顾及多故障的情况,提出了基于漏检概率的可用性分析方法,并通过模拟计算得到一些结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈金平	清华大学精密仪器与机械学系	11	277	8.0	11.0
3	唐波		4	38	3.0	4.0
4	周建华		6	100	4.0	6.0