界面极化和自由体积尺寸对正电子素形成的影响

• 作者: 夏亚一 孙旭东 王天民 王宝义 胡幼华 齐陈泽
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 化学
• 关键词: 高冲聚苯乙烯 高密度聚乙烯 低密度聚乙烯 聚丙烯 共混物 正电子湮没
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 419-423
• 页数: 5页
• 分类号: O631.1+1
• 字数: 3509字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2005.06.003

摘要

测量了高冲聚苯乙烯、高密度聚乙烯、低密度聚乙烯、聚丙烯和高冲聚苯乙烯分别与其它3种材料的共混物随时间测量的正电子湮没寿命谱.结果显示,所有测量样品的长寿命组分τ3值不随时间变化,而且大部分样品相应的长寿命强度I3也保持不变,仅有几种聚合物随时间呈现减小.I3的减小被认为是在测量过程中聚合物表面电场形成的结果,I3保持不变则与聚合物体内的自由体积尺寸和在测量过程中形成的界面极化密切相关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐陈泽	绍兴文理学院应用化学研究所	36	237	8.0	14.0
2	王天民	北京航空航天大学理学院	140	1545	22.0	32.0
3	王宝义	中国科学院高能物理研究所	69	258	9.0	12.0
4	孙旭东	绍兴文理学院应用化学研究所	13	76	6.0	8.0
5	夏亚一	兰州大学材料科学系	142	884	15.0	23.0
6	胡幼华	绍兴文理学院应用化学研究所	8	114	4.0	8.0