利用X射线荧光分析法提高铝电解质中Al2O3分析准确度

• 作者: 徐文勇 解峰
• 来源期刊: 铝镁通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 粒度效应 谱线干扰 AL2O3 铝电解质 X射线荧光分析法 准确度 X射线荧光光谱法 干扰实验
• 年，卷（期）: lmtx_2005,（3）
• 页码范围: 35-36
• 页数: 2页
• 分类号: TF821

摘要

本文针对影响铝电解质中Al2O3分析准确度的因素加以分析。通过试样粒度和元素间谱线干扰实验。有效地提高了在X射线荧光光谱法分析铝电解质中Al2O3准确度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解峰	宁夏青铜峡铝业集团公司质监部	1	0	0.0	0.0
2	徐文勇	宁夏青铜峡铝业集团公司质监部	1	0	0.0	0.0