电感耦合等离子体原子发射光谱法测定工业硅中11种成分的不确定度评定

• 作者: 胡晓静 赵恒英 黄大亮
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体原子发射光谱法 工业硅 不确定度 多元素
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 不确定度专题
• 页码范围: 77-81
• 页数: 5页
• 分类号: O657.31
• 字数: 3264字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2005.06.022

摘要

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法对工业硅中11种化学成分进行系统的不确定度分析,阐述了测定过程不确定度的主要来源,对各不确定度分量进行了量化计算,提出了量化过程所需各参数的采集和统计计算方法,得出合成标准不确定度、扩展不确定度及测定结果的置信区间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晓静		39	214	9.0	11.0
2	赵恒英		8	32	3.0	5.0
3	黄大亮		9	75	6.0	8.0