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摘要:
采用射频等离子体增强的气相沉积法,以硅烷和乙烯为原料,在常温下成功的合成了碳化硅薄膜.对于该条件下合成的碳化硅薄膜的结构特征,采用SEM、TEM、XRD、IR等手段进行了分析;分析结果表明我们的样品是以碳硅键为主的薄膜.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 常温下采用射频等离子体法合成碳化硅膜
来源期刊 真空 学科 化学
关键词 碳化硅膜 射频等离子体 气相沉积
年,卷(期) 2005,(2) 所属期刊栏目 薄膜
研究方向 页码范围 27-30
页数 4页 分类号 O612.4|O484.1
字数 3065字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-0322.2005.02.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张家良 大连理工大学三束材料表面改性国家重点实验室 33 282 9.0 16.0
2 王德真 大连理工大学三束材料表面改性国家重点实验室 44 399 13.0 18.0
3 宋巧丽 大连理工大学三束材料表面改性国家重点实验室 2 8 1.0 2.0
4 张鹏云 大连理工大学三束材料表面改性国家重点实验室 9 52 4.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
碳化硅膜
射频等离子体
气相沉积
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空
双月刊
1002-0322
21-1174/TB
大16开
辽宁省沈阳市万柳塘路2号
8-30
1964
chi
出版文献量(篇)
2692
总下载数(次)
3
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