一种基于核设计的SOC测试控制体系结构

• 作者: 何仑 杨松华 王炎辉
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: SOC 边界扫描 测试控制体系
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 519-521
• 页数: 3页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2005.06.004

摘要

随着集成电路复杂性的提高和SOC系统的出现,电路测试的难度也在不断增大,测试问题已经成为SOC设计的瓶颈.在研究了现存的测试控制结构后提出了基于核设计的SOC测试控制结构,它以边界扫描控制体系为基础,融合多种测试控制方法,支持不同类型的IP核进行测试.从而解决了SOC测试中控制部分的一些问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨松华	上海大学微电子中心	15	46	4.0	6.0
2	王炎辉	上海大学微电子中心	1	6	1.0	1.0
3	何仑	上海大学微电子中心	1	6	1.0	1.0