用于热障涂层氧化测量的复阻抗谱中等效电路参数的确定

• 作者: 卢鑫 周益春 杨丽
• 来源期刊: 湘潭大学自然科学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 复阻抗谱 热障涂层 等效电路 参数
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 物理与力学
• 页码范围: 89-97
• 页数: 9页
• 分类号: O642.5
• 字数: 3001字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5900.2005.02.020

摘要

建立了热障涂层在不同氧化阶段的等效电路,确立了等效电路中各元件参数与阻抗表征值之间的关系,确定了各元件的参数值,以达到对热障涂层微观结构以及TGO(其界面氧化物称为热生成氧化物(TGO))生长过程的检测.运用EQU软件模拟发现,等效电路阻抗谱与实测阻抗谱有很好的一致性,同时等效电路中参数值的计算与模拟的结果符合得很好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周益春	湘潭大学材料与光电物理学院	108	552	11.0	21.0
5	杨丽	湘潭大学材料与光电物理学院	28	125	3.0	11.0
9	卢鑫	湘潭大学材料与光电物理学院	3	4	1.0	2.0