定性半定量分析软件IQ在X射线荧光光谱方法中的应用研究

• 作者: 洪江星 陈天文
• 来源期刊: 福建分析测试
• 学科: 工学
• 关键词: XRF 定性半定量分析 IQ+
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 2155-2157,2161
• 页数: 4页
• 分类号: TN2
• 字数: 1361字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-8143.2005.02.004

摘要

本文介绍了X射线荧光光谱定性半定量分析方法以及定性半定量分析软件IQ+的产生和发展.通过对化学、材料、机械、土建、微电子、物构及工艺制造等专业的一些样品的实例分析,展示了X射线荧光光谱定性半定量分析方法在科学研究中的广泛应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈天文	福州大学测试中心	20	163	9.0	12.0
2	洪江星	福州大学测试中心	12	62	4.0	7.0