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摘要:
深亚微米近场飞行头飞行高度测试是近场光存储的关键技术之一.为了能精确测试近场飞高变化,检测系统需要具有很高灵敏度和分辨力,而前级放大电路设计是检测系统设计关键.本文对光电探测器前级放大电路设计、讨论,并进行了实验分析;提出了实用化的电路设计形式以及注意事项.
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文献信息
篇名 光电探测器前级放大电路设计与研究
来源期刊 电测与仪表 学科 工学
关键词 前级放大 微电流 光电探测器 飞高测试 近场光存储
年,卷(期) 2005,(6) 所属期刊栏目 电路设计与应用
研究方向 页码范围 32-34
页数 3页 分类号 TP311.53
字数 2631字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-1390.2005.06.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李庆祥 清华大学精密仪器与机械学系 84 2180 20.0 45.0
2 李玉和 清华大学精密仪器与机械学系 59 1638 16.0 40.0
3 陈张玮 清华大学精密仪器与机械学系 7 222 5.0 7.0
4 王亮 清华大学精密仪器与机械学系 38 471 9.0 21.0
5 段瑞玲 清华大学精密仪器与机械学系 13 1067 10.0 13.0
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研究主题发展历程
节点文献
前级放大
微电流
光电探测器
飞高测试
近场光存储
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电测与仪表
半月刊
1001-1390
23-1202/TH
大16开
哈尔滨市松北区创新路2000号
14-43
1964
chi
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55393
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