从飞行时间二次离子质谱像解析航天器污染的信息

• 作者: 周传良 查良镇 王光普 陈旭 黄雁华
• 来源期刊: 真空
• 学科: 工学
• 关键词: 飞行时间二次离子质谱 航天器 污染 二次离子像
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 真空电子技术
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: O484|Q1|TH843|TN4
• 字数: 4324字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0322.2005.06.010

摘要

飞行时间二次离子表面质谱能对航天材料上肉眼可见微量污染物实现包括元素、同位素和各种化合物在内的指纹鉴别,特别是样品量有限航天器污染成份分析的理想手段.本文重点讨论如何从带有金一次离子源的飞行时间二次离子像中提取有关航天器污染的信息.由于飞行时间二次离子质谱独具的并行质量登录能力,二次离子表面像上每一像素都储存着完整的质谱,任意质量的二次离子像都可重构.与四极和磁二次离子质谱相比,飞行时间二次离子质谱更适于复杂航天器污染物的成像分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈旭	清华大学电子工程系	71	482	10.0	20.0
2	查良镇	清华大学电子工程系	25	295	10.0	17.0
3	王光普	清华大学电子工程系	3	6	1.0	2.0
4	黄雁华	清华大学电子工程系	2	5	1.0	2.0
5	周传良		13	77	5.0	8.0