三种纳米颗粒粒径测量方法的比较

• 作者: 周崎 曹标 陈明
• 来源期刊: 物理测试
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米颗粒 粒径 测量方法
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 27-29
• 页数: 3页
• 分类号: TB321
• 字数: 1273字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0777.2005.06.010

摘要

本文以纳米SiO2粉末为研究对象,首次比较了三种常用的纳米颗粒粒径检测方法(透射电镜法、X射线衍射法、比表面积法)的检测结果.结果表明:与透射电镜法检测结果相比,X射线衍射法及比表面积法的测量结果偏小,分别小约8.1%和5.9%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周崎	广州出入境检验检疫局化矿金属材料检测中心	21	34	4.0	5.0
2	陈明	广州出入境检验检疫局化矿金属材料检测中心	21	34	4.0	5.0
3	曹标	广州出入境检验检疫局化矿金属材料检测中心	23	34	4.0	5.0