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摘要:
根据星载电子设备CMOS电路中现场可编程逻辑阵列(FPGA)闩锁的发生机理,提出了输入/输出回路的抗锁定、二次屏蔽防止单粒子触发锁定等遏制闩锁触发条件,以及工作电源限流、闩锁检测与解除等遏制闩锁维持条件的设计,并给出了应用检测电路、板级锁定检测与解除、电流敏感器件检测电流和FPGA闩锁监测等应用实例.
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工作原理
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 星上FPGA抗闩锁设计
来源期刊 上海航天 学科 工学
关键词 星载电子设备 现场可编程逻辑阵列 抗闩锁 设计 可靠性
年,卷(期) 2005,(6) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 51-54
页数 4页 分类号 TP332.1
字数 2779字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-1630.2005.06.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 廖瑛 国防科学技术大学航天与材料工程学院 47 197 8.0 12.0
2 杨雅 国防科学技术大学航天与材料工程学院 4 21 3.0 4.0
4 施敏华 4 21 3.0 4.0
5 盖建宁 3 11 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
星载电子设备
现场可编程逻辑阵列
抗闩锁
设计
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海航天
双月刊
1006-1630
31-1481/V
上海元江路3888号南楼
chi
出版文献量(篇)
2265
总下载数(次)
4
总被引数(次)
11928
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