回旋速调管加载损耗介质群聚腔的研究

• 作者: 刘迎辉 徐勇 李宏福 熊彩东 罗勇
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 回旋速调管 群聚腔 品质因素 损耗介质 模式匹配 散射矩阵
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 高功率微波
• 页码范围: 1870-1874
• 页数: 5页
• 分类号: TN129
• 字数: 3407字
• 语种: 中文

摘要

用模式场匹配理论建立了散射矩阵,数值模拟并分析了加载损耗介质层对群聚腔Q值、谐振特性以及群聚腔两端漂移段半径的大小对谐振特性的影响.研究表明:加载损耗介质在高频率下使群聚腔主要寄生模式EH212和EH311得到极大的抑制,对工作模式H01模更有利;衰减常数随损耗层厚度的增加而迅速增加,Q值随介质厚度的增加迅速减小,因此在设计腔体时必须严格控制损耗材料厚度.最后为正在研制的回旋速调管设计了满足要求的低Q群聚腔,该腔冷测实验结果与计算结果基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗勇	电子科技大学物理电子学院	90	684	14.0	20.0
2	李宏福	电子科技大学物理电子学院	84	1010	16.0	26.0
3	徐勇	电子科技大学物理电子学院	31	276	10.0	14.0
4	熊彩东	电子科技大学物理电子学院	16	109	7.0	9.0
5	刘迎辉	电子科技大学物理电子学院	33	154	9.0	10.0