系统芯片验证平台设计

• 作者: 张溯 程作仁 詹文法 陶芳泽
• 来源期刊: 微机发展
• 学科: 工学
• 关键词: 验证平台 可重用性 待验证模块 功能验证
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 软件工程
• 页码范围: 74-76,79
• 页数: 4页
• 分类号: TP306
• 字数: 2672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2005.11.024

摘要

使用验证平台可以提高验证效率,传统的验证平台是针对特定的待验证模块设计的,不同的设计需要开发不同的验证平台.验证平台的开发既浪费时间,又很难保证验证平台本身100%正确.文中提出了一种系统芯片验证平台开发方法,按该方法开发出的验证平台具有高可重用性、可扩展性、可升级性、可维护性和自动化等功能,提高了验证平台的开发效率,从而提高了验证效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	詹文法	安庆师范学院教育技术系	50	339	11.0	16.0
2	张溯	合肥工业大学微电子设计研究所	24	128	8.0	10.0
3	陶芳泽	安庆师范学院教育技术系	4	22	2.0	4.0
4	程作仁	合肥工业大学微电子设计研究所	9	78	4.0	8.0