硅纳米线的合成及表征

• 作者: 唐元洪 张勇 裴立宅 郭池 陈扬文
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 硅纳米线 掺杂 表征 性能
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 动态综述
• 页码范围: 172-176
• 页数: 5页
• 分类号: TN304.1
• 字数: 5398字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.03.002

摘要

目前已通过气-液-固生长机理及氧化物辅助生长等机理合成了大量硅纳米线,电镜、能量色散X射线分析、X射线光电子能谱、拉曼光谱、近边X射线吸收精细结构光谱、I-V测量、光致发光、场发射、电子输运测量等是表征硅纳米线的有效手段,介绍了硅纳米线在合成及表征方面的最新进展,并对其发展做了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勇	湖南大学材料科学与工程学院	64	923	15.0	29.0
2	唐元洪	湖南大学材料科学与工程学院	67	498	13.0	19.0
3	裴立宅	湖南大学材料科学与工程学院	37	510	14.0	21.0
4	郭池	湖南大学材料科学与工程学院	20	250	9.0	15.0
5	陈扬文	湖南大学材料科学与工程学院	16	217	9.0	14.0