碳酸盐岩地层中双孔隙结构对电阻率及胶结指数的影响

• 作者: 徐朝晖 朱登朝 焦翠华 王绪松 赵军
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: 碳酸盐岩 双孔隙结构 阿尔奇公式 Maxwell-Garnet电导率模型 可变胶结指数
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 处理解释
• 页码范围: 115-117
• 页数: 3页
• 分类号: P588.245|P631.34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2005.02.008

摘要

论述了双孔隙结构地层的导电机理,分析了次生孔隙度对电阻率值的影响.采用Maxwell-Garnet电导率模型评价双孔隙结构对电阻率的影响,从而求解出次生孔隙度,并推导出了可变胶结指数,它可以提高在碳酸盐岩双孔隙结构地层中应用阿尔奇公式计算饱和度时的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦翠华		14	200	8.0	14.0
2	徐朝晖		8	155	7.0	8.0
3	王绪松		1	14	1.0	1.0