简便快速的TGC探测器性能检测系统

• 作者: 彭承志 杨冬 米明磊 虞孝麒 金革
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 TGC 计数器 USB
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 93-96
• 页数: 4页
• 分类号: TL818.5
• 字数: 3214字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2005.01.024

摘要

介绍一个基于USB总线的用于检验薄间隙室TGC的简便快速检测系统,详细叙述了测试原理、系统的结构以及测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金革	中国科学技术大学近代物理系	52	219	8.0	11.0
2	虞孝麒	中国科学技术大学近代物理系	58	192	8.0	10.0
3	彭承志	中国科学技术大学近代物理系	16	27	3.0	4.0
4	杨冬	中国科学技术大学近代物理系	7	29	2.0	5.0
5	米明磊	中国科学技术大学近代物理系	1	1	1.0	1.0